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Electronic Transport in ZnO Thin Films(2013/9/24 九州大学)

2013/09/26

■講 師:David C. Look 
■ご所属:Semiconductor Research Center, Wright State University

■日 時:2013年9月24日(火) 10:00-11:00
■場 所:九州大学 伊都キャンパス ウエスト2号館 第8講義室
■主 催:九州大学 大学院システム情報科学研究院
     情報エレクトロニクス部門 電子デバイス工学講座


【概要】
酸化亜鉛は資源が豊富で人体への影響が小さく、絶縁体から金属的な伝導まで制御できることから、資源問題と有害性が顕在化したIn2O3:Snの代替透明導電膜や、GaNを超える発光デバイス等、様々な用途が期待されている。本講演ではデバイスの性能を決定づけるキャリアの輸送特性について、詳細に議論した。

【学生の関わり様】
学生から下記のような質問が出て,講師と学生の間で議論が行われた.
1.酸化亜鉛中の酸素欠損が電気特性に与える影響について
2.酸化亜鉛の導電性(p型/ n型)制御について
3.酸化亜鉛薄膜の高品質化(熱処理等)
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