文部科学省大学間連携共同教育推進事業「未来像を自ら描く電気エネルギー分野における実践的人材の育成」

■講師：岩田 晋弥 氏
　(地方独立行政法人　大阪産業技術研究所　和泉センター　製品信頼性研究部）　　　　　　　　　
■演題：高分子電気絶縁材料の劣化とその抑制原理の検討

■日時：令和6年 11月 25日（月）　16：20 〜 17：50
■場所：九州工業大学戸畑キャンパス　教育研究10号棟201室
　　　　(対面とZoomのハイブリッド講義)

■主催：九州工業大学
■共催：九州パワーアカデミー

■申込/お問合せ：小迫雅裕（kozako(アットマーク)ele.kyutech.ac.jp）
　申込締切：11月18日（月）

■概要：高分子電気絶縁材料は、電力・電気機器や電子デバイスの安全性と信頼性を確保するために不可欠である。しかし、絶縁劣化やその抑制の原理については未解明な点も多い。本講演では、X線イメージング技術を利用した絶縁劣化痕の観察や計算機シミュレーションを活用した劣化抑制原理の検討を中心に、最近の研究成果を紹介する。

■学生の関わり様
自己紹介に始まり、研究所の業務内容について主に高電圧・絶縁分野の研究内容が紹介された。その後，①X線CTによる電気トリー観察と描画シミュレーション，②分子動力学計算による絶縁劣化モデルの検討，③量子化学計算による分子開裂力の評価について詳細に説明された。絶縁劣化現象の解明は難しいものであるが，現在の最先端の技術を持ってそれに取り組んでおられることは学生にとって大変興味深い内容であった。講演後には、多くの質疑応答がなされ活発な議論が展開された。