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3Hs – Higher Education in UK, High Voltage Research and High Electric Field Phenomena in Dielectrics [6月6日(金)九州工業大学]

2014/05/19

【科目種別】電気エネルギー講座Ⅱ(英語科目)

■講 師:George Chen 教授

■ご所属:Southampton University, イギリス

■演 題:3Hs – Higher Education in UK, High Voltage Research
     and High Electric Field Phenomena in Dielectrics

■日 時:平成26年 6月 6日(金)9:00~10:30

■場 所:九州工業大学 百周年中村記念館 多目的ホール
http://www.kyutech.ac.jp/information/map/tobata.html
   (キャンパスマップ63番の建物)

■主 催:国立大学法人 九州工業大学大学院 工学府電気電子工学専攻

■申込/お問合せ: 九州工業大学 担当:匹田・森
         TEL&FAX:093-884-3241
         mori[at]ele.kyutech.ac.jp

■概 要:
 高等教育に焦点を当てて英国の教育システムおよびサウザンプトン大学Tony Davies高電圧研究所における誘電体中の高電界現象に関する研究について紹介する。英国は高等教育政策において革新的な変化を模索している。特に,1970〜1990年代からの苦難を経験した後,英国の高電圧研究は,産業界からの要請によりここ2〜3年ではブームが再来している。今日,英国には4つの主要な高電圧研究所をもつ大学があり,それぞれ,固有の専門的研究領域をもっている。この内,サウザンプトン大学は英国の高電圧研究の重要な役割をになっている。
 Tony Davies研究所の主要な研究活動のひとつは,高電界下での誘電現象の研究である。この研究は直接に絶縁材料の電気的破壊,劣化現象と関係しており,それゆえ,誘電体中の高電界現象の理解が高電圧システムにおける電力設備の信頼性向上に寄与する。誘電体中の高電界現象は電荷挙動に密接に関与する。実験とシミュレーションの両面から研究することで,電荷捕捉(トラップ),デトラップ,再結合,輸送過程につき,理解を深めることできる。
 最新の研究結果から,新しく形成される電荷捕捉が誘電体の劣化現象に密接に関与していることがわかってきており,これらの成果を利用して絶縁材料の寿命を推定する新しい手法を提案しているが,これらについても講演する。
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