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空間電荷分布計測を応用した新しい 固体絶縁材料の高電界物性評価の試み ~電力エネルギーの有効活用のために~ (2013/3/11 九州工業大学)

2013/03/11

■日時:平成25年3月11日(月) 14:00 ~ 17:00
■場所:九州工業大学 総合研究1号棟2階 S-2A講義室(院講義室)

田中 康寛 氏 (東京都市大学 教授)
『絶縁材料の高電界物性評価の概要と応用例』

三宅 弘晃 氏 (東京都市大学 准教授)
『新しい測定技術の開発』

高田 達雄 氏 (東京都市大学 名誉教授)
『新しい解析手法の提案』

【概要】
最近重要性が増している直流送電においては、直流電圧印加により発生する空間電荷の蓄積が起因となって絶縁破壊が生じる問題があり、固体絶縁材料中に蓄積する空間電荷分布を計測する技術が欠かせない技術である。この技術を独自に開発した東京都市大の研究グループに、これまでの取り組みと開発中の新しい技術、分子軌道法を用いた高度な計算機シミュレーション手法について紹介頂いた。

【学生の関わり様】 
学生は、今回の講座により、基礎技術の重要性と技術への継続的なこだわりの必要性を学べた。3講師に対してそれぞれたくさんの質問がなされ、学生にとっては新しい技術であったが、わかりやすく説明して頂いた。高田先生が講師の際には、学生1名を指名して前に立たせ、直接Q&A方式で授業を進めるスタイルを取られ、いつ当たるかわからない他の聴講者も緊張しながら、理解度を相互に確認しながらの授業となった。
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